泰斯特檢測技中心檢測能力介紹(二) 電子元器件機(jī)械性能檢測及環(huán)境試驗
時間:2020-05-02 16:32:11 瀏覽:1024
一、電子元器件機(jī)械性能檢測
機(jī)械性能是金屬材料常用指標(biāo)的一個集合,是機(jī)械類產(chǎn)品設(shè)計中使用的重要材料性能指標(biāo)。我司對電子元器件產(chǎn)品機(jī)械性能做檢測,檢測項目如下:
1、壽命試驗;
2、嚙合力和分離力、插合特性;
3、中心接觸件固定性;
4、連接機(jī)構(gòu)的保持力、電纜保持力;
5、連接機(jī)構(gòu)耐力矩、連接器的耐久性;
6、彎曲試驗、硬度;
7、彈簧彈力測試;
8、氣密封(氦氣檢漏)。
二、電子元器件環(huán)境試驗
環(huán)境試驗是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間,在預(yù)期的使用,運輸或貯存的所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的檢測活動。通過模擬各類環(huán)境氣候,運輸、搬運、振動、等條件下,材料和產(chǎn)品是否達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)。
環(huán)境試驗如下:
1、高頻振動、隨機(jī)振動;
2、濕熱、溫度循環(huán)、溫度沖擊、高溫存儲、低溫存儲;
3、鹽霧/交變鹽霧(中性)。
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